DESCRIÇÃO DO PRODUTO
Os projetos de triagem pontuais e as condições de estresse conduzidas pelos fabricantes de componentes dificilmente atendem às necessidades de desenvolvimento de equipamentos; além disso, muitas vezes há alguns produtos industriais ou de qualidade média e baixa e até mesmo produtos possivelmente falsificados e de qualidade inferior em componentes importados, o que torna difícil garantir a qualidade e a confiabilidade dos equipamentos eletrônicos.
Ciclo de teste
2-4 semanas, durante as quais serão fornecidos serviços abrangentes de triagem e testes para componentes eletrônicos; e serviços urgentes estarão disponíveis.
Escopo do produto
Resistor; capacitor; esfera magnética; indutor; transformador; oscilador de cristal; ressonador de cristal; relé; dispositivos discretos semicondutores (diodo, triodo, FET, matriz Darlington, dispositivo optoeletrônico semicondutor, etc.); conector elétrico; elementos de interruptor e painel; circuito integrado semicondutor (circuito de base de tempo, transceptor de barramento, buffer, driver, tradutor de nível, dispositivo de porta, gatilho, transceptor de linha LVDS, amplificador operacional, regulador de tensão, comparador de tensão, chip de potência (regulador de tensão, conversor de potência de comutação, monitor de potência, gerenciamento de energia, etc.), conversor digital para analógico (A/D, D/A, SRD), memória, dispositivo lógico programável, microcomputador de chip único, microprocessador, controlador, etc.); filtro; módulo de potência; IGBT, etc.
Itens de teste
| S/N | Itens de teste | Quantidade da amostra | Método de teste |
| 1 | Inspeção visual | Conforme solicitado pelo cliente | GJB128% 2c GJB548% 2c etc. |
| 2 |
Teste de desempenho elétrico: Teste de temperatura normal/teste de alta temperatura/teste de baixa temperatura |
Conforme solicitado pelo cliente | Método de teste GB ou GJB GJB33, GJB63, GJB65, GJB1042, GJB1432, GJB1648, GJB2438, GJB2138, GJB597, …… |
| 3 |
Teste de estresse ambiental/mecânico: varredura de frequência/vibração aleatória, armazenamento em baixa temperatura, armazenamento em alta temperatura, ciclo de temperatura, choque de temperatura, aceleração ou queda constante, vedação (detecção de vazamento grosso, detecção de vazamento fino), PIND |
Conforme solicitado pelo cliente | GJB360,GJB128,GJB548, GJB33, GJB63, GJB65, GJB1042, GJB1432, GJB1648, GJB2438, GJB2138, GJB597, …… |
| 4 | Vida/envelhecimento/burn-in | Conforme solicitado pelo cliente | GJB360,GJB128,GJB548 |
| 5 | Teste ultrassônico de colagem de chips | Conforme solicitado pelo cliente | GJB548 |
| 6 | Radiografia de raios X | Conforme solicitado pelo cliente | GJB360,GJB128,GJB548 |
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