Teste de produto AEC-Q102 de dispositivos optoeletrônicos

Teste de produto AEC-Q102 de dispositivos optoeletrônicos
Detalhes:
A AEC, composta pela Ford, Chrysler e General Motors, emitiu o padrão de confiabilidade AEC-Q102 para dispositivos optoeletrônicos, que define requisitos de teste rigorosos para a confiabilidade de dispositivos optoeletrônicos e fornece dispositivos optoeletrônicos com alta confiabilidade e longa vida útil para a fábrica de motores principal. A equipe técnica AEC-Q da GRG Test realizou um grande número de testes AEC-Q ca
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Descrição
Parâmetros técnicos
DESCRIÇÃO DO PRODUTO

 

As lâmpadas servem como componentes importantes de todo o veículo. No entanto, os padrões de teste de confiabilidade das lâmpadas e seus acessórios são numerosos e complicados, e os padrões de teste variam de uma fábrica de motores principal para outra, causando, assim, baixa universalidade de tais padrões.

 

Ciclo de teste

 

2-3 meses, durante os quais serão fornecidos um plano de certificação abrangente, testes e outros serviços

 

Escopo do produto

 

Contas de lâmpadas LED, fotodiodos, fototransistores, conjuntos de laser

 

Itens de teste

 

S/N Itens de teste Abreviação Número da amostra/lote Número do lote Método de teste
1 Teste elétrico e fotométrico pré e pós-estresse TESTE Teste antes e depois de todos os testes de estresse

Especificações do usuário

2 Pré-condicionamento computador Pré-tratamento de produtos SMD antes dos testes WHTOL, TC e PTC JESD22-A113
3 Visual externo Veículo Elétrico Teste antes e depois de cada teste, exceto testes DPA e dimensionais. JESD22-B101
4 Verificação Paramétrica PV 25 3 Nota A Especificações do usuário
5a Vida útil em alta temperatura HTOL1 26 3 Nota B JESD22-A108
5b Vida útil em alta temperatura HTOL2 26 3 Nota B JESD22-A108
5c Polarização reversa de alta temperatura HTRB 26 3 Nota B JESD22-A108
6a Vida útil operacional em alta temperatura úmida WHTOL1 26 3 Nota B JESD22-A101
6b Vida útil operacional em alta temperatura úmida WHTOL2 26 3 Nota B JESD22-A101
6c Alta umidade, alta temperatura, polarização reversa H3TRB 26 3 Nota B JESD22-A101
7 Ciclismo de temperatura TC 26 3 Nota B JESD22-A104
8a Ciclagem de temperatura de energia PTC 26 3 Nota B JESD22-A105
8b Vida operacional intermitente LIO 26 3 Nota B Método MIL-STD-750-1 1037
9 Vida útil em baixa temperatura LTOL 26 3 Nota B JESD22-A108
10a Modelo de corpo humano de descarga eletrostática HBM 10 3 {0}} {0}} {0}}
10b Modelo de dispositivo carregado por descarga eletrostática MDL 10 3 Q da CEA101-005
11 Análise Física Destrutiva APD 2/Teste 1 Apêndice 6
12 Dimensão Física DP 10 3 JESD22-B100
13 Força Terminal TS 10 3 Método MIL-STD-750-2 2036
14 Aceleração constante CA 10 3 Método MIL-STD-750-2 2006
15 Frequência Variável de Vibração VVF JEDEC JESD22-B103
16 Choque mecânico EM JEDEC JESD22-B104
17 Hermeticidade DELA JESD22-A109
18a Resistência ao calor da solda RSH (-refluxo) 10 3 Com chumbo:JESD22-A113,J-STD-020
Sem chumbo: AEC-Q005
18b Resistência ao calor da solda RSH (-onda) 10 3 Líder:JESD22-B106
Sem chumbo: AEC-Q005
19 Soldabilidade SD 10 3 Chumbo:J-STD-002,JESD22-B102
Sem chumbo: AEC-Q005
20 Vida operacional pulsada PLT 26 3 JESD22-A108
21 Orvalho ORVALHO 26 3 JESD22-A100
22 Sulfureto de hidrogênio H2S 26 3 CEI 60068-2-43
23 Fluxo de gás misto FMG 26 3 Método de teste IEC 60068-2-60 4
24 Resistência térmica TR 10 1 JESD51-50,JESD51-51,JESD51-52
25 Puxar ligação de arame WBP 10 3 Método MIL-STD-750-2 2037
26 Cisalhamento de ligação de fio EAP 10 3 Q da CEA101-003
27 Corte de matriz DS 5 3 Método MIL-STD-750-2 2017
28 Crescimento de Whister GT / / CEA Q005

 

 

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